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太陽能電池片EL缺陷檢測儀(EL)
德國太陽能電池電致發光EL缺陷檢測儀分為在線/離線型單片&組件缺陷檢測儀、便攜式太陽能電池缺陷測試儀,廣泛應用于單晶、多晶及薄膜太陽能電池片及組件的缺陷檢測,包括層壓前、層壓后、串焊等引起的缺陷成像分析;太陽電池缺陷檢測儀是依據太陽電池的電致發光原理而研制的用于太陽電池組件內部缺...
更新:2011-04-18
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[新品] 太陽能電池IV測試儀(VS)
儀器簡介:專業太陽能電池IV測試儀,配備國際認證AAA級穩態太陽能模擬器及相關測試附件,可對太陽能電池片的IV性能進行快速準確的測量、分級分選等; 同時可提供: 1,手動IV測試儀; 2,半自動IV測試儀; 3,全自動IV測試儀;
更新:2011-04-18
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[新品] 薄膜熱應力測試系統(Thermal MOS)
世界***薄膜熱應力測量系統(薄膜應力儀,薄膜應力計,薄膜應力測試儀),MOS多光束技術榮獲美國專利技術!同時KSA公司榮獲2008 Innovation of the Year Awardee!該設備已經廣泛被全球***高等學府(如:Harvard University 2套,Stanford University,Johns Hopkins University,Brown Universit...
更新:2011-04-18
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[新品] 薄膜應力測試儀(MOS)
世界***薄膜應力測量系統,又名薄膜應力計或薄膜應力儀!MOS美國專利技術!曾榮獲2008 Innovation of the Year Awardee!采用非接觸MOS激光技術;不但可以精確的對樣品表面應力分布進行統計分析,而且還可以進行樣品表面二維應力、曲率成像分析;并且這種設計始終保證所有陣列的激光光點始終在同一...
更新:2011-04-18
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原位薄膜應力計(MOS)
技術參數 1.掃描分辨率:2 μm ; 2.平均曲率分辨率:< 2e-5 (1/m) 1-sigma (50km radius) 1-sigma; 3.平均翹曲測量重復性:< 5e-6 (radians) 1-sigma; 4.平均曲率重復性:<2×10-5 1/m (1 sigma) 主要特點 1.程序化控制掃描模式:選定區域、多點線性掃描、全面積掃描; 2.實時原...
更新:2011-04-18
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光譜橢偏儀(PHE)
技術參數 膜厚范圍:0-30000nm 折射指數:± 0.0001 厚度準確度:± 0.01nm 入射角度:20 - 90° 波長范圍:250-1100nm(深紫外、近紅外、紅外可選) Psi=±0.01°,Delta=±0.02° 主要特點 高精度測量; 變角度功能; 全光譜測量;儀器介紹 ***高精度光譜橢...
更新:2011-04-18
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離子減薄儀(IV)
技術參數 離子能量:0.1~10keV; 離子束減薄樣品角度:0~90度; 樣品***大減薄速率:350um/h;主要特點 在不同的激發電壓下,樣品雙面同時減??; 超大TEM樣品制備:>100um*100um; 可同時實現樣品減薄和拋光; 支持升級低能離子源; 支持所有的離子源; 支持液氮冷卻臺;儀器介紹 來自歐洲***SEM...
更新:2011-04-18
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原子層沉積系統
技術參數 基底溫度范圍:高大800℃;主要特點 1,專業ALD設備制造商,提供專業的用于科研或研發級的ALD/PEALD設備及工藝; 2,可以選擇橫流式沉積模式、或top flow (showerhead噴淋花傘) 沉積模式或等離子體增強沉積模式; 3,提供2英寸~12英寸全套專業的原子層沉積系統方案; 4,Loadlock Chamber可快速加...
更新:2011-04-18
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多功能掃描探針顯微鏡(SPM)
技術參數 標準型掃描器 XY:20μm,Z:2μm 分辨能力 XY:0.2nm, Z: 0.01nm(可實現原子級分辨) 主要特點 測試功能: * 形貌測量:接觸式AFM、輕敲式Tapping、掃描隧道STM; * 微摩擦力研究:FFM功能、切向調制摩擦力LM-FFM功能,摩擦力曲線; * 微觀磁力研究:高分辨磁力顯微鏡MFM功能; * ...
更新:2011-04-18
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[新品] AAA太陽光模擬器(XES)
國際標準化Class AAA級的太陽能模擬器,又稱太陽光模擬器或者太陽模擬器;適合于各種光電材料、光電器件、太陽能電池領域的研究、測試以及評價等;
更新:2011-04-18
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[促銷] 太陽能電池量子效率測試系統(VS)
太陽能電池量子效率測量系統(光譜響應測試系統、IPCE測試系統),廣泛應用于各種太陽能電池包括單結、多結薄膜太陽能電池的SR光譜響應,EQE外量子效率,IQE內量子效率,IPCE,相對反射率,***反射率,相對透射率,***透射率等測量和研究;匹配國際測試標準:IEC 60904-8, & ASTM E1021-(2001)測...
更新:2011-04-18
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